超声波探伤中光洁度对回波的影响？

liaoqianmao · 发表于 2010-5-27 16:42:45

今天探伤发现个问题
我探的是厚度在100左右的圆饼锻件
有几个表面粗车得不够光　于是在第二次底面波前一点出现很高的回波　光洁度好的地方就没有这个问题
请问这怎么解释　谢谢

wrnndt · 发表于 2010-5-27 16:42:46

我也碰到过这种问题粗糙的一面打有到反面光洁的打就没有是表面耦合层散射造成的打磨之后就没了

dc永恒之心 · 发表于 2010-5-27 20:43:24

本帖最后由 dc永恒之心于 2010-5-27 20:45 编辑

探头杂波

zhangshihong · 发表于 2010-5-28 09:30:10

应该不是探头杂波哦
1、如果在“第二次底面波前一点出现很高的回波”的位置是在你所探工件的边缘部位，那么有可能是超声波在工件内部发生了波型转换，因为直探头波束有指向性和扩散问题，波束一部分斜射向圆饼锻件圆周部分，在工件内部发生了波型转换，纵波转换后成了横波声程比直射长。所以出现在1次底波和2次底波之间。如下图：
波型转换.JPG

只是一种分析，可能会有多方面原因，要根据工件情况和设备等各方面进行分析，希望对你有帮助。

joven0911 · 发表于 2010-5-28 10:17:48

表面粗糙度对探伤结果又影响！加工精度标准上都有明确的规定,根据检测级别不同,受检表面的粗糙度也不同,对于AAA级检验Ra值不应大于1.6μm,对于AA级和A级检验Ra值不应大于3.2μm,对于B级检验Ra值不应大于6.3μm,由于表面粗糙度本身并不能反映所有的表面特征,因此有时可能需要进一步改善表面状态或根据实际情况提出要求!

liaoqianmao · 发表于 2010-5-28 15:30:40

应该不是波型转换和轮廓回波
因为只有车的不够光的工件会出现这个情况　

adazhao · 发表于 2010-5-29 12:21:18

迟到波，跟耦合有关，你采用水浸法对表面要求就可以放低一些！

xiaoyadong · 发表于 2010-5-30 19:28:10

一般第二次底波不用考虑的。。。最多就注意一次低波后面靠经一次底波的地方。。可能有近场缺陷

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